簡介

納米粒(lì)度(dù)檢(jiǎn)測(cè)儀是(shì)通(tōng)過(guò)動態(tài)光(guāng)散(sàn)射技(jì)術
，表(biǎo)征(zhēng)顆粒大(dà)小(xiǎo)和(hé)分布的一種儀器(qì)。萊(lái)恩德智能科技自主研(yán)發的國(guó)產納米粒度(dù)檢測儀(yí)是一款(kuǎn)基於傷處(chǔ)原理研發(fā)的(dí)納(nà)米(mǐ)顆(kē)粒(lì)粒度表(biǎo)征分(fēn)析儀。

分散在(zài)液(yè)體(tǐ)中的顆粒(lì)由(yóu)於(yú)受到液(yè)體(tǐ)分(fēn)子的熱(rè)運動(dòng)撞(zhuàng)擊而進(jìn)行不(bù)規則的(dí)布朗運動。在(zài)相同環境下
，顆(kē)粒(lì)尺(chǐ)寸越(yuè)小(xiǎo)
，布朗(lǎng)運(yùn)動越劇烈(liè)
，對(duì)應顆粒的(dí)擴(kuò)散(sàn)行為越明顯(xiǎn)。當(dāng)一束(shù)激(jī)光照(zhào)射到這些(xiē)顆(kē)粒時(shí)
，其散射(shè)光的強(qiáng)度會由(yóu)於(yú)顆粒(lì)的(dí)布(bù)朗(lǎng)運(yùn)動而隨機變化
，且(qiě)變化(huà)的快慢與顆(kē)粒布朗運(yùn)動的快慢有關(guān)。通過(guò)特定(dìng)的(dí)光(guāng)子相(xiāng)關器(qì)可(kě)直(zhí)接測(cè)量散射光強的(dí)變化(huà)快慢
，進(jìn)而可(kě)知顆粒布朗運(yùn)動(dòng)的(dí)擴(kuò)散(sàn)係數
，再(zài)利(lì)用Stokes-Einstein公式(shì)即(jí)可(kě)計算得(dé)到顆(kē)粒的粒徑及(jí)其粒度(dù)分(fēn)布。

應(yīng)用領域(yù)

納米(mǐ)粒(lì)度檢測(cè)儀應用於(yú)磨(mó)料，化學機(jī)械拋光液(yè)，陶瓷，粘(nián)土，塗(tú)料，汙染監測，化妝品，乳劑(jì)，食品，液體工作介質(zhì)/油，墨(mò)水(shuǐ)，  乳液(yè)，色漆(qī)，製(zhì)藥粉(fěn)體，顏料(liào)，聚合(hé)物，蛋白(bái)質(zhì)大分，二(èr)氧化矽(guī)以(yǐ)及自組裝TiO2納米管(TNAs)等(děng)。