介質損耗測試儀(yí)
- 產(chǎn)品(pǐn)說明
- 產品優勢(shì)
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簡介(jiè)
介質損耗(hào)和(hé)介電常數是各(gè)種金(jīn)屬(shǔ)氧(yǎng)化物，板(bǎn)材(cái)，瓷(cí)器(qì)（陶(táo)器(qì)），雲(yún)母，玻璃(lí)，塑料(liào)等物(wù)質的一(yī)項重(zhòng)要(yào)的物(wù)理(lǐ)性質。通(tōng)過測定(dìng)可(kě)進一步(bù)了解影響(xiǎng)介質(zhì)損(sǔn)耗和介電(diàn)常(cháng)數的(dí)各(gè)種因(yīn)素，為提(tí)高(gāo)材料的(dí)性能(néng)提供(gōng)依據(jù)。
用(yòng)途(tú)
該(gāi)介(jiè)質(zhì)損(sǔn)耗測(cè)試儀用(yòng)於科研(yán)機(jī)關，學校，工廠(chǎng)等單位(wèi)對無機(jī)金屬(shǔ)新(xīn)材料性(xìng)能的應(yīng)用研(yán)究(jiū)。
參考(kǎo)標準
GB/T 1409-2006 測(cè)量電氣(qì)絕緣材(cái)料在(zài)工頻，音頻(pín)，高頻(pín)(包(bāo)括(kuò)米(mǐ)波波(bō)長存(cún)內(nèi))下電容率(shuài)和(hé)介質損耗(hào)因數(shù)的(dí)推(tuī)薦(jiàn)方(fāng)法
GB/T 1693-2007 硫化(huà)橡(xiàng)膠 介電常(cháng)數和(hé)介(jiè)質損耗角(jiǎo)正切值的(dí)測定(dìng)方(fāng)法(fǎ)
ASTM-D150-介(jiè)電常(cháng)數(shù)測試(shì)方法
GB9622.9-88/SJT 11043-1996 電子(zǐ)玻璃高(gāo)頻介(jiè)質損耗和介(jiè)電(diàn)常(cháng)數的(dí)測試方法(fǎ)
測(cè)量範(fàn)圍(wéi)廣，采樣(yàng)精(jīng)度高，符(fú)合(hé)多標準(zhǔn)，多(duō)參數(shù)顯(xiǎn)示，操作簡單(dān)。
DDS數(shù)字合(hé)成信號(hào)源(yuán)，自動扣(kòu)除(chú)電(diàn)感(gǎn)，自(zì)動掃描諧振點。
LCD屏幕可顯(xiǎn)示F，L，C，Q，Lt，Ct等參數(shù)，大電容值直(zhí)接測量顯示(shì)，數(shù)顯微測(cè)量裝置，直(zhí)接讀值(zhí)。
| 信號源(yuán) | DDS數字(zì)合成 10KHZ-110MHZ |
| 采(cǎi)樣精度 | 11BIT |
| 測(cè)量(liáng)範(fàn)圍 | 1-1000自動/手動量程(chéng) |
| 分辨率 | 0.1 |
| 測量(liáng)工作(zuò)誤差(chà) | <5% |
| 電感測(cè)量範圍(wéi) | 分(fēn)辨(biàn)率(shuài) 0.1nH |
| 電(diàn)感測量誤(wù)差 | <3% |
| 調諧電(diàn)容 | 主電容 30-540pF |
| 電(diàn)容(róng)直(zhí)接(jiē)測量範(fàn)圍 | 1pF～2.5uF |
| 調諧(xié)電容誤(wù)差 | ±1 pF或<1% 0.1pF |
| 諧振點搜(sōu)索 | 自(zì)動掃描(miáo) |
| 合(hé)格預置範圍(wéi) | 5-1000聲(shēng)光提(tí)示 |
| LCD顯示參數 | F，L，C，Q，Lt，Ct等 |
| 介質(zhì)損(sǔn)耗(hào)係(xì)數精度 | 萬(wàn)分之一 |
| 介電常數精(jīng)度 | 千(qiān)分(fēn)之(zhī)一(yī) |
| 材料測(cè)試厚度(dù) | 0.1mm-10mm |
| 獨(dú)有(yǒu)技(jì)術(shù) | 儀器(qì)自(zì)動扣除(chú)殘餘電(diàn)感(gǎn)和(hé)測試引(yǐn)綫(xiàn)電(diàn)感(gǎn)。大幅提高(gāo)測量(liáng)精(jīng)度。大(dà)電(diàn)容值(zhí)直(zhí)接測(cè)量(liáng)顯(xiǎn)示。數顯(xiǎn)微測(cè)量裝置，直接讀值(zhí)。 |
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